雷達(dá)液位計(jì)常見的信號(hào)干擾源

    首先需要我們對(duì)雷達(dá)液位計(jì)的基本工作原理和工作參數(shù)的條件作一個(gè)了解。雷達(dá)液位計(jì)朝一個(gè)目標(biāo)發(fā)射電磁波，電磁波井發(fā)射后返回發(fā)射源。安裝在發(fā)射源處的接收器捕獲到反射波，并把它與發(fā)射波作比較，確定目標(biāo)的存在和它到發(fā)射源的距離。

    雷達(dá)液位計(jì)，使用時(shí)差原理計(jì)算到介質(zhì)表面的距離。 設(shè)備傳輸固定頻率的脈沖，然后接收并建立回波圖形。信號(hào)的傳播時(shí)間直接與到介質(zhì)的距離成一定比例。但是與超聲波使用聲波不同，雷達(dá)使用的是電磁波。它利用好幾萬(wàn)個(gè)脈沖來(lái) “掃描”容器并得到完整的回波圖。
　
    雷達(dá)液位計(jì)的典型波段為 5.8 GHz、10GHz 、24 GHz。通常我們稱5.8GHz（或6.3GHz）的頻率為C波段微波；10GHz的頻率為X波段微波;24GHz（或26GHz）的頻率為K波段微波。
　

雷達(dá)液位計(jì)常見的干擾源主要分外部干擾和內(nèi)部干擾兩大類

1）天體和天電的干擾
天體干擾是由太陽(yáng)或其他恒星輻射電磁波所產(chǎn)生的干擾。天電干擾是由雷電、大氣的電離作用、火山爆發(fā)及地震等自然現(xiàn)象所產(chǎn)生的電磁波和空間電位變化所引起的干擾。

2）機(jī)械的干擾
機(jī)械的干擾是指由于機(jī)械的振動(dòng)或沖擊，使控制儀表中的電氣元件發(fā)生振動(dòng)、變形，使連接線發(fā)生位移，使指針發(fā)生抖動(dòng)、儀表接頭松動(dòng)等。對(duì)于機(jī)械類的干擾主要是采取減振措施來(lái)解決，例如采用減振彈簧、減振軟墊、隔板等。

3）濕度干擾
濕度過(guò)高會(huì)引起絕緣體的絕緣電阻下降，漏電流增加；電介質(zhì)的介電系數(shù)增加，電容量增加；吸潮后骨架膨脹使線圈阻值增加，電感器變化；應(yīng)變片黏貼后，膠質(zhì)變軟，精度下降等。

4）化學(xué)的干擾
酸、堿、鹽等化學(xué)物品以及其他腐蝕性氣體，除了具有化學(xué)腐蝕性作用將會(huì)損壞儀器設(shè)備和元器件外，又能與金屬導(dǎo)體產(chǎn)生化學(xué)電動(dòng)勢(shì)，從而影響控制儀表的正常工作。

5）熱的干擾
火電廠熱力設(shè)備在工作時(shí)產(chǎn)生的熱量所引起的溫度波動(dòng)和環(huán)境溫度的變化，都會(huì)引起控制儀表的電路元器件參數(shù)發(fā)生變化，從而影響控制儀表的正常工作。

6）光的干擾
在控制儀表中廣泛使用著各種半導(dǎo)體元件，這些半導(dǎo)體元件在光的作用下會(huì)改變其導(dǎo)電性能，從而影響控制儀表的正常工作。

7）內(nèi)部干擾
干擾有時(shí)也來(lái)自儀表內(nèi)部，如電源變壓器、導(dǎo)線、印刷電路、電子元件之間的電感、電容或元器件內(nèi)部的噪聲干擾。

    雷達(dá)液位計(jì)的增益系數(shù)和波束角的大小和微波的波長(zhǎng)以及雷達(dá)液位計(jì)的喇叭口尺寸大小有關(guān)系。因此，越來(lái)越多的雷達(dá)液位計(jì)采用高頻率微波技術(shù)來(lái)改善雷達(dá)液位計(jì)的性能。同時(shí)，采用高頻技術(shù)后，可以在提高雷達(dá)性能的同時(shí)，大大縮小天線的尺寸，使安裝更加方便。

按照制定好的對(duì)策，逐步逐條實(shí)施。
（1）據(jù)雷達(dá)液位計(jì)信號(hào)類型選擇相應(yīng)的信號(hào)過(guò)濾器型號(hào)。
（2）訂購(gòu)挑選的信號(hào)過(guò)濾器。
（3）按照過(guò)濾器說(shuō)明書安裝信號(hào)過(guò)濾器。
（4）定期對(duì)雷達(dá)液位計(jì)和PLC進(jìn)行保養(yǎng)；
（5）定期人工檢尺，檢查液位計(jì)測(cè)量值是否在規(guī)定范圍內(nèi)；
（6）將信號(hào)過(guò)濾器說(shuō)明書資料歸檔，以便今后查閱。